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本文標題："應當用一個電燈泡與待側電容器-電路檢測顯微鏡"
新聞來源：未知 發布時間：2014-6-6 22:46:10 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
應當用一個電燈泡與待側電容器-電路檢測顯微鏡
介質擊穿介質擊穿可能由過壓或對介質造成損傷的制造缺陷引起。電解電容
器制造缺陷如果有的話，那也很少能加以證明，因為證據在故障過程中不可避免地會
遭到破壞。介質擊穿引起電容器兩個端子之間的電流不受控制地流動，從而導致過大
的功率耗散且可能發生爆炸。識別介質擊穿的電容器通常很容易看出，因為這類故障
是典型的爆炸現象，用肉眼能明顯看見。測試可疑電容器時，要想給故障電容器加電
而不引起突發故障，應當用一個電燈泡與待側電容器串聯，以防止電抓能量進人故障
電容器。采用這種方法測盤漏泄電流更加安全。
電容損失當有電解質損失時就會發生電容損失。當電解電容器的密封外殼
存在泄漏時，通常便發生電解質損失。由于正常的環境過程，經過一段時間密封便
可能出現泄漏。通常，某些清洗溶劑、溫度升高、振動或制造缺陷都會加速密封性能
變壞。電解質損失的典型結果是電容損失，等效串聯電阻增大，以及功率耗散相應
增大。
開路當電容器內部的連接端子性能變差及失效時，通常便發生開路。電連接性
能變差的產生可由于腐蝕、振動或機械應力作用的結果，可能損傷電連接。開路故障
的結果是電容損失。
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