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本文標題："焊道熱影響粗化晶粒使用電子顯微鏡(TEM)觀察"
新聞來源：未知 發布時間：2013-5-28 16:29:11 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
焊道熱影響粗化晶粒使用電子顯微鏡(TEM)觀察
除了一般焊道熱影響區粗化晶粒、攪拌區細化晶粒的分佈外，
在攪拌區晶粒細化的位置以穿透式電子顯微鏡(TEM)觀察，
可發現此處為等軸晶粒有動態再結晶的機制產生以及在焊道中發現疑似絕熱剪力帶的結構。
在強化焊道強度方面，硬度方面發現并無強化的效果；
在拉伸強度方面則發現氧化鋁粉的顆粒會形成堆積，而這樣的堆積會形成焊道中的缺陷。
在拉伸測試后能發現氧化鋁粉顆粒的堆積與母材無有效的鍵結，進一步的以穿透式電子顯微鏡觀察，
可發現顆粒與母材中的確存在著縫隙。除了機械性質分析以及焊道觀察之外，
焊接制程中以動量計量測焊接時的動態負荷，并且比較動態負荷與焊道品質的相關性，
期在未來能以線上檢測的方式，即時檢測出焊道是否有缺陷，以提高焊接效率
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