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本文標題："膜厚量測是使用經校正的橢偏儀量測"
新聞來源：未知 發布時間：2013-5-29 0:36:46 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
膜厚量測是使用經校正的橢偏儀量測
高頻超音波量測技術：
光學接收系統的實驗
將超音波激發探頭放置在試片背面，利用探頭產生高頻的超音波，驗證干涉儀是否可以偵測出超音波訊號。
當探頭產生超音波后，在試片中的超音波會傳至接收點的位置，
其中在時間 4μs 附近到達的波群為探頭本身訊號，緊接其后的訊號即是試
片的超音波訊號，此訊號可以由波傳路徑的時間來推論。利用超音波訊號的頻譜分析，
由圖中可得出偵測系統的頻寬略大于 90 MHz
為了進一步得出更精確的超音波實驗結果，
薄膜試片委請 PTB 使用 IWS的超音波裝置量測，并紀錄原始結果供將來研究參考，試片樣本是 SiO2 薄膜鍍于 Si 110
on 001 的基材上，圖 2-5 是超音波波傳速度的頻散曲線以及不同頻率時對應的訊號強度，
圖的試片膜厚是 1000 nm，膜厚量測是利用經校正的橢偏儀量測
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