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偵測元件是各式量測系統中不可或缺的重要元件,目前常見的光學偵測元件包含光二極體 (Pho-todiode)、累崩式二極體 (Avalanche photodiode,APD)、光電倍增管 (Photomultiplier tub,PMT) 及電荷耦合元件 (Charge-coupled device,CCD) 等。
光二極體及累崩式二極體利用 pn 接面二極體結構,當訊號光子照射時,激發電子至導電帶產生訊號電流。而累崩式二極體更進而應用高逆偏壓可使訊號增加百倍。PMT 則是使訊號光子在真空玻璃管內的陰極板,以光電效應產生電子并經由具壓差的陰極板重複放大訊號,此三種偵測元件皆為單點偵測器。
CCD 則是利用陣列式電容,將入射光子以光電效應轉換成電荷并累積于每一電容中,再依次施加偏壓于電容之電極以移動電荷,
使訊號電荷移動至讀取暫存器,再依次讀取每一像數之訊號電荷,以建立所有像數組成的數碼影像
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