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本文標題:"結構工藝分析微小零件輪廓分析顯微鏡"

新聞來源:未知 發布時間:2017-12-9 22:31:24 本站主頁地址:http://www.pzfczx.com

結構工藝分析微小零件輪廓分析顯微鏡

  1.裝配調整矢量磁強計三分量探頭必須保持正交,并與基準
面平行或垂直。如果測量精度要求不高,尚可依靠精密加工和正確
裝配來保證。但是,高精度磁強計探頭必須精確裝配調整。例如,
若探頭軸線偏離理論方向,由于實測磁場分量與應測磁場分量之差
,可能成為誤差大項,甚至破壞儀器精度。在10mm基準長度上只要
出現0.01mm的不平行度,磁場強度的相對誤差可達1‰,測向誤差
約3.5’,地磁測量時的絕對誤差為60nT。

  磁通門探頭定向誤差由下列三種因素造成:首先是探頭測磁軸
向與裝配基準的偏差,根據第五章的探頭結構工藝分析,可知這項
偏差要比加工誤差大的多,而且為保證鐵心自由而存在相當大的游
動量;其次是裝配偏差,由于定位間隙和緊固作用造成的裝配偏差
一般也比加工誤差大,而且是隨機的;最后才是加工誤差,保證0
.01mm的形位公差已經是精加工了。

  矢量磁強計三分量探頭定向的安裝調整方法可參照第五章提供
的調試技術,但是要將定向誤差降低到0.10以下就相當困難了。
所以.高精度磁通門式磁強計的探頭裝配調整需要高度穩定的磁場
環境(屏蔽室和人工磁場)、精密三軸無磁轉臺和精密測試儀器。

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