---
---
---(點擊查看產品報價)
本文標題："過熱應力,封裝材料熔化樣品分析顯微鏡"
新聞來源：未知 發布時間：2017-6-27 22:24:53 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
過熱應力,封裝材料熔化樣品分析顯微鏡
過熱應力
當EOS出現時，電子元件可能由于過量的焦耳熱，材料屬性發
生變化、熔化或起火。這種狀態可以稱為過熱應力(TOS)。過熱應
力可以導致電動機過電流或過電功率。。當元器件遭受熱擊穿、熱
不穩定性或熱失控時，過熱應力都可能發生。過熱應力導致的失效
特征如下：
·封裝電源或信號引腳外觀熔化；
·封裝外觀開裂；
·封裝外觀錯位(如頂部脫離)；
·封裝材料熔化；
·模壓塑料變色；
·模壓塑料可見膨脹或燒蝕；
·模壓塑料炭化；
·綁定線熔化；
·綁定線汽化；
·綁定線一綁定pad分離；
·綁定pad開裂和分層；
·電遷移；
·介質擊穿。
EOS與過熱應力
EOS會導致過熱應力。例如，過電壓半導體雙極型晶體管(BJT)
、場效應晶體管(MOSFET)或LDMOS晶體管經歷電擊穿后，會產生熱
不穩定性，然后熱失控。但是，并不是所有形式的EOS都會導致熱
失效。
在某些情況下，過電壓不會導致過熱應力。例如，絕緣材料電
擊穿會導致介電質的損壞以及影響器件、電路或系統的可操作性。
EOS會導致材料性能非破壞性的變化。在這種情況下，過熱應力可
能不會表現出來，或者沒有出現我們比較關心的熔化或起火。過熱
應力也可能由于系統工作的內熱、老化和功能性過電牙而出現。
所有資料用于交流學習之用，如有版權問題請聯系，禁止復制,轉載注明地址
上海光學儀器一廠-專業顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價格
合作站點：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科