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本文標題："集成電路板分析高質量測試工業顯微鏡"
新聞來源：未知 發布時間：2017-6-24 2:08:50 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
集成電路板分析高質量測試工業顯微鏡
在超速測試中，在時鐘速度高于系統時鐘的條件下執行現有的或改
進后的過渡故障模式。在更高時鐘下的測試模式的應用能夠降低所
有路徑上的有效系統余量，因此能夠增加檢測到所有路徑上的小延
遲缺陷的概率。由于這一點，基于超速方法的測試方案不僅能夠檢
測關鍵的小延遲缺陷，還能夠篩選出潛在的可靠性缺陷。但是需要
特別注意的就是，當選取測試時鐘速度時許多長路徑可能成為多周
期路徑，因此需要將它們屏蔽掉。同樣，更高的測試頻率會使更多
的短路徑看成可能的延遲缺陷，因此對那些不需要嚴格質量水平的
產品會過殺其良率。然而，龐大的模式數量的問題仍然是超速測試
方法的一個主要的缺點。基于超速的測試方法已經得到擴展并包含
工藝偏差的影響以及串擾效應。這一擴展對理解小延遲缺陷是十分
關鍵的，因為這些不僅僅是在生產過程中引入的物理缺陷所引起的
，而且也會因電氣缺陷在現實生活中發生，例如串擾。替代或混合
的測試方法，能夠解決龐大的模式數量以及很長的運行時間的問題
而不會損耗測試質量。大部分替代的測試方法基于高效的測試模式
選取或高效的故障點選取。基于模式選取的方法中，不用生成時序
敏感模式，從現有的過渡故障模式庫中選取高效的測試模式。測試
模式對小延遲缺陷的有效性是基于電路中主／掃描輸出端所觀測到
的輸出偏差而測量得到的。類似的，其他的測量標準可以用于找出
具有更高的小延遲缺陷覆蓋率的測試模式。對于大型的工業電路來
說，這些方法在測試質量和測試成本方面可以提供更高的靈活性，
但是這些方法的缺點之一就是測試結果的總體質量無法高于選取這
些測試模式源頭的測試模式庫的質量。、因此，擁有一個非常高質
量基線的測試模式集是關于這些方法的先決條線。高效的基于故障
選取的替代方案不會遭受這一弊端。有效的基于故障選取的方法的
主要原理就是并不是所有的故障點都需要特別的測試模式來鎖定小
延遲缺陷，因為傳統的過渡故障模式已經檢測了很多可能的小延遲
缺陷。基于電路拓撲的故障選取方法。這兩種方法能夠在合理的計
算時間內產生高質量的測試集，這兩種方法在產業上的應用也驗證
了這些方法針對產品應用的價值。
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