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本文標題："渦流覆層測厚儀覆層厚度測量多功能分析顯微鏡"
新聞來源：未知 發布時間：2016-5-7 1:56:15 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
渦流覆層測厚儀覆層厚度測量多功能分析顯微鏡
電渦流法簡稱渦流法，它實質上是一種電磁法，其原理是利
用交流電磁場在被測導電物體中感應產生的渦流效應．渦流法的
工作頻率為幾赫到200 MHz，通常在覆層厚度測量中最高工作頻
率大約為10,一20MHz。渦流法主要用來測量非磁性導電基體上的
非導電覆層厚度、非導電基體上的導電覆層厚度；在覆層和基體
的電導率相差較大的情況下，也可以用來測量非磁性導電基體上
的非磁性導電覆層厚度。渦流法應用最普遍的是測量鋁制品表面
上的陽極氧化膜、鋁或銅及其合金制品表面上的油漆層或其他非
導電覆罷厚度，以及非導電基體上銅箔的厚度等。
渦流效應與被測制品的磁導率有關。覆層與基體的磁導率不
同，可以測量鐵磁基體上的非磁性覆層厚度，及不同磁導率的磁
性覆層厚度。但是，對每種基體和覆層的組合需要有各自的分度
曲線或面板，對同一臺渦流覆層測厚儀要用于多種組合下的覆層
厚度測量，將需要相應多的分度曲線或較多的面板，從而增加了
測量的復雜性。在此情況下，通常采用有統一分度的磁感應法，
較少采用渦流法。
渦流法測量覆層厚度的范圍隨基體和覆層材料的組合、所選
用的頻率而異，一般導電覆層厚度可測到小至幾分之一微米，非
導電覆層可小至約2微米，而測量較厚的覆層可達幾十毫米。
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