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本文標題："顯微鏡下直徑小于200微米的顆粒邊緣處呈不規則狀"
新聞來源：未知 發布時間：2015-5-26 23:12:25 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
顯微鏡下直徑小于200微米的顆粒邊緣處呈不規則狀
氧化硅的沉淀常常使外部起伏變光滑，在凹陷處比片上有更
多的沉積，此作用易發生于熱帶沙摸的砂粒上。另一方面，氧化
硅可沉淀在機械成的翻卷片上，以致增加了它的高度和厚度。在
此情況下，翻卷片的頂部比在機械型上見到的大為圓化。沉淀作
用和翻卷片的形成也可以沿已述及的解理線發生，這樣在一個顆
粒表面上以前僅為一平面的地方，可以形成相當大的全新形態。
顆粒徑是個關健，因為我們發現那些直徑小于200微米的顆粒
絕大多數是由平的上下解理面(多半平行于I;7和`o面)，和在顆粒
邊緣處呈不規則狀的片的邊部所組成的。在粒徑大于約200微米
的顆粒上，不僅可以呈現這兩種特征，·而且貝殼狀破裂后可產生
不規則的塊體。事實上，貝殼破裂能發育得這樣好，以致使其它
機械特征可能不譯·分明顯。在本圖冊中以后將粒徑小于200微米
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