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如配制適當,則各向異性金屬的拋光樣品將對偏振光起
“反應”,在正交偏振片下將觀察到一種晶粒襯比效應,這是
說,晶粒的亮度將隨晶體取向而變遷,但如樣品屬立方晶系,
則在正交偏振片下將只出現一片均勻的黑暗,除非由于侵蝕的
結果而產生了人工各向異性,就是說,由于侵蝕的結果而產生
了各向異性的表面薄膜或輪廓清晰的侵蝕斑,一個侵蝕斑將對
斜入射的光線發生反射,反射光將是橢圓偏振的,但是,這樣
一支光線,檢偏振器在任何位置也不可能完全消光,它將產生
一背底照明,因而掩蓋了晶粒襯比效應。
很明顯,偏振光主要用途之一是辨別不同取向的面積,因
為這些面積在正交偏振片下面是以不同強度出現的,由此可見,
這一技術對研究形變的效應,特別是從優取向的產生將非常有
用,但在豎直施照器與檢偏振器之間再插入一染色片,則每一
晶?梢钥恳环N特征的顏色來識別,當樣品轉動時顏色將隨之
改變,這對于在再結晶研究中識別從優取向的強度,是非常有
用的,要相圖的測定中,用偏振光易于在多相合金中識別不同
的相。
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