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本文標(biāo)題："高倍光學(xué)顯微鏡下研究礦物的解理特征"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-4-21 20:07:02 本站主頁(yè)地址：http://www.pzfczx.com
高倍光學(xué)顯微鏡下研究礦物的解理特征
用于光學(xué)研究和解理碎片法
與礦物顆粒法相比，解理碎片法具有一定的潛在優(yōu)勢(shì)，用
理碎片法可研究較大的樣品，因而能對(duì)樣品中不同包裹體組
合和結(jié)晶方位之間的關(guān)系進(jìn)行研究，然而即使礦物的解理異
常發(fā)育（方解石），在高倍顯微鏡下觀時(shí)，也往往表現(xiàn)出不
平整表面的特點(diǎn)，從而掩蓋了下伏的包裹體，需要用浸油來(lái)
消除這些影響，因此，解理碎片法的價(jià)值是有限的。
測(cè)溫分析所需拋光片的制備
兩面拋光的礦物薄片是成功在進(jìn)行包裹體測(cè)溫研究的關(guān)鍵
，標(biāo)準(zhǔn)的礦石拋光工藝可以很容易地改成流體包裹體拋光薄
片的制作工藝，片子高質(zhì)量?jī)擅鎾伖獗绕叫泻推秸砻娓?/div>
要，不過(guò)我們總是應(yīng)該力爭(zhēng)把這兩方面都搞好，拋光片的最
終厚度取決于包裹體的大小和豐度以及礦物的透明度，
大多數(shù)樣品厚度要求介于0.2和0.5mm之間，但是如果樣品不
透明或半透明，則需要制備很薄的（約0.1mm）拋光片，厚
度大于2mm是不允許的，因?yàn)檫@會(huì)影響設(shè)計(jì)的冷-熱兩用臺(tái)的
操作。
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