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本文標題："隨著不同AFM顯微鏡技術的發展-表面粗糙度測試"
新聞來源：未知 發布時間：2014-7-12 4:41:05 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
隨著不同AFM顯微鏡技術的發展-表面粗糙度測試
原子力顯微技術(AFM)是建立在圖像技術基礎上的，主要用于表征材料的表面
形貌。
隨著不同AFM技術的發展，它能同時包含物理和化學信息，例如，導電一AFM，開爾
文探針顯微技術(KPFM).非接觸式掃描顯微技術(NC一SFM )等。AFM可以提供在理
想條件下的橫向及縱向人數量級分辨率.在獲得形貌的同時，八FM還可以給出相圖，這
個相圖對應表面的物理性質，也可以對應化學性質對比。但八FM技術有明顯的不足，即
受到分析范圍和非常緩慢的采集時間的限制.在()PV研究中，AFM主要用于研究如何
獲得本體異質結活性層的最佳納米結構(溶劑選擇、熱退火處理方法和混合比例等)，從而
提高OPV效率[5-8)0 AFM對穩定性和衰減的研究僅限于支持其他研究方法得到的
結論。
Motaung等利用AFM相圖以及表面粗糙度測試
表明其表面粗糙度的增加，以及大顆粒C60的形成)，并結合其他技術來研究熱退火處理過程
中，P3HT:嘶復合薄膜的熱降解過程。可以發現，隨著熱退火處理時間的改變，薄膜的
形貌也隨之改變，即隨著場過度生長，使得表面粗糙程度增加，最終導致P31hT，C60太
陽電池效率的降低。
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