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本文標題："摩擦力顯微鏡的原理簡介-儀器小常識，上光儀器"
新聞來源：未知 發布時間：2013-1-13 0:25:33 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
摩擦力顯微術(FFM)
在接觸式AFM 中，利用四象限光電二極體，同時偵測探針的垂直及水平位移，
而得到固定正向力下之表面摩擦力，在一般原子力顯微鏡皆有此功能。應用于樣品結構成份區分，
表面潤滑特性分析，表面摩擦力量測等等。目前大多是測量摩擦力相對值，絕對值量測有幾種不同方法，但正確性及重復性仍有待提升。
而得到固定正向力下之表面摩擦力，在一般原子力顯微鏡皆有此功能。應用于樣品結構成份區分，
表面潤滑特性分析，表面摩擦力量測等等。目前大多是測量摩擦力相對值，絕對值量測有幾種不同方法，但正確性及重復性仍有待提升。
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