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本文標題："AFM顯微鏡與STM的原理最主要的差異是什么"
新聞來源：未知 發布時間：2013-1-13 0:24:08 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
原子力顯微術原理示意圖
AFM的工作原理與STM大致相同，最主要的差異乃在探針與樣品表面間之交互作用，
不再是微小空隙間所產生的穿隧電流，而是探針與樣品表面間
不再是微小空隙間所產生的穿隧電流，而是探針與樣品表面間
原子的作用力。在AFM裝置上，探針通常是由一個針尖附在一支橫桿
(Cantilever)前端所組成，作用力造成橫桿之微小偏曲，其變形量可用光學
偵測法來感測。如此，借著掃描系統、偵測橫桿變形量的機構及回饋電
路，便能借著垂直微調探針與樣品表面間的距離，而在掃描的過程中維持
固定的原子力。此種垂直微調距離簡稱高度，而得到了掃描區域的表面形貌或高度影像
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