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本文標題："碳酸鹽巖膠結孔隙形成樣品分析圖像顯微鏡"
新聞來源：未知 發布時間：2019-8-6 0:22:14 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
碳酸鹽巖膠結孔隙形成樣品分析圖像顯微鏡
實際上，裂縫對電阻率測井曲線的影響是劇烈變化的，它取決于裂縫
的尺寸、方向和其中所含流體的性質(泥漿濾液、地層水或烴)。感應電阻
率儀器受水平電阻率影響，而側向測井受垂直電阻率影響。因此，感應測
井一般對垂直裂縫是不敏感的，但是可以探測出充滿導電水的水平裂縫。
相反，側向測井和同時測量的感應測井相比，卻能以明顯的電阻率降低來
把垂直裂縫顯示出來。由于微電阻率儀器只反映地層體積的很小一部分，
所以它們對裂縫最敏感。裂縫完全被泥漿濾液充滿時，將記錄出高電導率
異常。
含水層段的碳酸鹽巖膠結指數值，可以按前面已經說過的步驟，由電
阻率和孔隙度測井曲線得出。做為一個簡單的例子，圖8給出堪薩斯東北部
Arbuckle石灰巖(寒武一奧陶系)剖面的一個膠結指數剖面。地層是由含有
一些燧石的中等結晶白云巖組成，局部存在溶洞和裂縫孔隙。膠結指數曲
線同一般預計的數值2很接近，但有一些擺動，有時大些(可能是孔洞)有時
小些(可能是裂縫)。
相反，在第二個例子中(圖9)，堪薩斯南部賓夕法尼亞系石灰巖的膠結
指數變化很大。剖面的上部為鮞狀巖層。在鮞穴狀孔隙形成過程中，鮞石
被有選擇地溶解了，它的高彎曲度反映在非常高的膠結指數上。在鮞狀巖
層下面，呈現出比較典型的碳酸鹽巖膠結指數值，這即意味著這些粒泥灰
巖具有單一的骨架孔隙度。然而，個別部分的膠結指數偏到比較低的值，
表明可能有裂縫發生。
在碳酸鹽巖巖石學家和巖石物理學家的緊密合作下，可能(也許會)得
到更確定的關系。膠結指數剖面用做鑒別碳酸鹽巖骨架特性的手段，比在
砂巖的情況下更帶有推測的性質。實際上，為了把電阻率反映的孔隙形態
同更普通的成因描述聯系起來，必須把各個單獨井的巖心數據緊密地結合
起來，才能得到有意義的結果。
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