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本文標題："AFM是分析表面形貌及表面粗糙度計量顯微鏡"
新聞來源：未知 發布時間：2018-4-26 19:06:29 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
AFM是分析表面形貌及表面粗糙度計量顯微鏡
AFM是分析表面形貌及表面力性能(如摩擦和彈性)的有效工具。它
揭示分子或原子級尺寸，其空間分辨率比電子硅微術的高，用。可以很
容易地觀測硬而平的表麗。軟而粗糙的樣品則會產生假的圖像。已知在
填充體系中有下列應用：測定高模量PE纖維的表面形貌和納米結構1、
細直徑(13μm)芳綸的結構及形貌2以及炭黑的聚集體。
測試步驟：利用～個很細的探針(通常針尖的半徑小于10mn)，通過
探測探針與樣品間排斥力的變化來觀測表面形貌？其硅微鏡載物臺允許
樣品旋轉，并采用了兒種不同的探針(原子級的高分辨率探鉗不同玄觀
觀測用的探針)和各種現成的軟件。叮在空氣中對樣品進行觀測，但在
水中觀測試樣可提高空間分辨率，避免損傷試樣表面。采用恒力掃描模
式也可限制表面損傷。樣品的制備非常重要。通常，用濕微鏡蓋玻片作
為基底，將其切割成小部分(如3 X 3mm)，把樣品沉積在濕的玻璃片上
，然后在室溫下真空干燥2。觀測炭黑聚集體時，制樣程序較復雜：將2
0mm炭黑超聲分散在40ml氯仿中，然后滴幾微升到玻璃片上3。為了使聚
集體的分布和密度均勻，需要在同…位置將懸浮液接連滴2．3次。還要
注意．載玻片的表面塒分布的均勻性有重要影響。用鍍金的表麗比直接
用玻片時分散更均勻。炭黑制樣時選鍍金載玻片3。
標準方法：無
主要結果：觀測到的最小納米微絲寬瞍是10～15nm(甚至能看到5—
8ran更細的纖維)1。AFM的垂直分辨率比SEM的高，因此很容易觀測到纖
維的形貌特征。纖維直徑的測試結果與x射線衍射法測得的結果一致，
能夠測定芳綸的粗糙度參數，這有助于改善工藝條件
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