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本文標題："物料粒度沉降技術-沉降、淘析、顯微鏡分析顯微鏡"
新聞來源：未知 發布時間：2016-10-21 10:50:39 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
物料粒度沉降技術-沉降、淘析、顯微鏡分析顯微鏡
微篩分
對低于38μm 左右的物料，很少進行常規篩分，用于一38μ
m 物料的篩分作業叫“微篩分”。盡管各種新型電子技術現已投
入使用，使用最廣的方法仍然是沉降、淘析、顯微鏡分析和激光
衍射法。
用于表示微篩級范圍物料粒度的概念有很多，了解這些概念
很重要，特別是在綜合不同方法確定的粒度分布時，尤為重要。
最好一種粒度分布范圍只涉及一種方法，但這一點并不是總能辦
到。
各種方法之間的換算因素因樣品特征和環境而異，并且當分
布規律不相似時還跟粒度有關。對球形顆粒來說，很多方法最終
都會得出同樣的結果，但對于不規則顆粒就不是。對一個給定的
特征尺寸，以下給出了某些大致的影響因素
使用沉降技術時，待分級物料分散于一種液體中，并在嚴加
控制的條件下沉降；使用淘析技術時，分散物料在某種上升液體
流速作用下沉降而得以分級。兩種方法都是借助于在液體中運動
的阻力而使顆粒分離的。這種運動阻力決定著液體中的顆粒在重
力影響下降落時所具有的自由沉降速度。
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