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本文標(biāo)題："金相試樣的制備金相檢驗(yàn)中一個(gè)極其重要的環(huán)節(jié)"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-7-29 1:13:15 本站主頁(yè)地址：http://www.pzfczx.com
金相試樣的制備金相檢驗(yàn)中一個(gè)極其重要的環(huán)節(jié)
金相試樣的制備
金相試樣的制備，是金相檢驗(yàn)中一個(gè)極其重要的環(huán)節(jié)。根據(jù)金相
分析評(píng)級(jí)時(shí)，顯微鏡放大倍數(shù)的不同，可將金相試樣分為兩類：低
倍試樣和高倍試樣。低倍試樣在觀察時(shí)放大倍數(shù)≤50倍，而高倍試
樣在觀察時(shí)放大倍數(shù)>50倍。一般所說(shuō)的金相試樣即指高倍試樣，
低倍試樣和高倍試樣的制作程序是不一樣的，低倍試樣包括去應(yīng)力
回火、熱酸浸蝕或冷酸浸蝕，清水沖洗和熱風(fēng)吹干4個(gè)步驟；高倍
試樣包括試樣截取、鑲嵌、研磨(粗磨、細(xì)磨、拋光)和金相組織顯
示4個(gè)步驟。由于金相檢驗(yàn)中大部分檢驗(yàn)項(xiàng)目都使用高倍試樣，
(一)金相試樣的形狀和尺寸
金相試樣的形狀，一般選擇方柱體和圓柱體兩種。其尺寸不宜
過(guò)大或過(guò)小，試樣尺寸過(guò)小，夾持不方便，且易造成邊緣缺陷和磨
面不平坦；試樣過(guò)大，研磨過(guò)程中耗費(fèi)時(shí)間太多，同時(shí)試樣的磨面
也易殘留磨痕和其他缺陷。
(二)金相試樣的截取
金相試樣切取時(shí)，取樣的部位應(yīng)根據(jù)金相檢驗(yàn)的目的，按有關(guān)
標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定在原材料或零件的相應(yīng)部位上截取，以便使所取的試樣
具有代表性。例如，要求檢驗(yàn)機(jī)械設(shè)備某零件破裂的原因，就應(yīng)該
在零件破裂處和遠(yuǎn)離破裂處分別取樣，觀察兩者組織的異同，分析
比較找出導(dǎo)致破裂的可能原因。又如，為了檢驗(yàn)鋼材表面的脫碳情
況，必須取帶有表面層的試樣，同時(shí)試樣的檢驗(yàn)面應(yīng)垂直于表面。
以便觀察其表層組織，并測(cè)試脫碳層的厚度。
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