---
---
---(點擊查看產品報價)
本文標題："對于長度的測量，形狀及表面的粗糙度測量顯微鏡"
新聞來源：未知 發布時間：2015-7-24 22:41:21 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
對于長度的測量，形狀及表面的粗糙度測量顯微鏡
當要求特別高的精度時，其中包括對于長度的測量，形狀的規
格性的檢核和表面的粗糙度的檢核及對于反射鏡小傾斜度的測量，
凡此種種測量工作中，均應用著干涉型的儀器(干涉儀)。在干涉
儀中，可采用兩條或多條相干光束的干涉。有兩種應用干涉方法的
可能，第一是根據干涉條帶的位移，測量直線的位移。很容易以
0．1的條帶寬度的精度來測量這個位移，也就是說測量平面位移的
誤差達0．03微米。干涉的第二種應用是借助于標準表面來檢核其它
表面的平面度。
在測量實際中，基于測量條帶位移原理的干涉儀，得到最廣泛
的推廣。比如，根據條帶位移測定用來測定水準器靈敏度的檢驗儀
的反射鏡傾角。該方法的實質就是以光波長度根據測量直角三角形
小直角邊來測定小的傾角。
垂高計的工作原理是利用望遠鏡依次照準被測量構件的起、末
兩端，將被測構件的尺寸和垂高計的作業尺進行比較。：任何垂高計
的原理圖都是由下列基本構件組成：沿導軌移動的照準設備(通常
這種設備是望遠鏡)，望遠鏡整平設備(借助于水準器或液體水平
及自準直儀)、作業尺(分劃尺)和讀數設備(顯微鏡、錐形體和
放大鏡)。
所有資料用于交流學習之用，如有版權問題請聯系，禁止復制,轉載注明地址
上海光學儀器一廠-專業顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價格
合作站點：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科