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x射線壤譜術單色x射線束通過單晶體及多晶體樣品的
衍射所產生的干涉現象與普通光線通過光柵的現象是相似的。
在晶格面上的反射,服從于熟知的光學定律;
電子管結構中的材料,大部份是多晶體聚合物(單晶體只
是作為一種例外),粉末法是最經常用來決定材料結構的X射
線法。對于晶格參量的決定而言,必須量測通常用點子或虛線
來表示的衍射環的直徑。如果樣品只有很少的晶體因而在環上
只有很少的點子,那么量測會發生困難。使樣品旋轉或將樣品
沿著平行于其軸移動的方法使更多的晶體暴露于X射線下有可
能獲得連續的衍射環。
1.無定形狀與結晶態的區別
無定形態:在真溶液的情況下常常是模糊的,在膠體懸浮
液則為很多寬的暈圈。
結晶態:多晶體聚合物為密集的環,單晶體則為Laue圖。
2.相的識別
兩個相的混合物(例如易熔質),顯示出二個相的線。
固熔體:衍射線略有移動,而數目及位置不變(稍被改變
的是晶格的尺寸而不是晶格的形式)。金屬互化物的形成或一
種新的相的凝結由出現新的繞射環來表示。
不規則的——規則的以及同素異形體的相之改變有不同的
圖樣。
5.用與標準圖樣相比較的方法來識別未知物質
例如,用來決定某種金屬的各種氧化物,或用于化學分析
是繁冗的等等其它情況中。
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