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本文標題："石墨晶粒,測量石墨截面分析圖像顯微鏡"
新聞來源：未知 發布時間：2014-12-31 15:56:57 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
石墨晶粒,測量石墨截面分析圖像顯微鏡
很據直接轉化機理，石墨應是合成金剛石的相當合適的
原料.但目前在金剛石生產中常用的碳質原料，多數是人造
石墨.它們都是以有機物，如瀝青、石油焦、炭黑作原料，熱解
后放出氫和碳氫化合物等氣體，縮聚成由碳的六角環平面網
聚合體組成的無定形碳，然后在3000℃左右將無定形蹼作石
墨化處理的.因此，不同的人造石墨含有由完整石墨晶體到
所謂無定形碳為止的各種不同垃度的結晶度.也就是說石墨
化程度與晶粒發育情況是很不一樣的.要選擇石墨化程度
高、晶粒大、晶形好的石墨作合成金剛石的原料，必須掌握測
量石墨化程度和晶粒的手段.
生產中為了控制加熱電流(或其他目的)需要測量石墨的
電阻率.一般的人造石墨，雖然是多晶材料，但在擠制或模壓
過程中，晶粒會有一定的擇優取向，因此在不同方向電阻率往
在不一樣.
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