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波前計量方法是分析一束與待測樣品相互作用后的波前。一般地,波前計量
方法使用矩陣傳感器,因而能夠快速收集三維信息。波前計量方法的優點是:
不僅可以應用于表面測量,而且也能測量整個元件的特性,對于后者,可以測量
透明光學元件。有時.開創了一種純表面測量可能相當難以實現的功能性測量方法。
在某些情況下,兩個表面對波前的組合效應要比其中一個的單獨作用弱或簡
單些,這不僅是測量組件波前的能量,而且也是一個位得注意之處.當測量兩個
以上表面的組合作用時,找出潛在缺陷的根本原因并不容易,利用其他檢驗方法
或者制模工的經驗有助于查明具有最大瑕疵的表面。為了對生產進行質量控制,
透射干涉術和波前傳感法是非常有用的技術,利用這些方法可以測量一個零件的
光學功能,所以,很容易地應用合格/不合格判斷準則。此外,只需完成一次而
不是兩次表面測量。下面討論干涉術和其他波前傳感技術。未明確表明區別時,
則這些計量技術可以應用于表面和透射波前兩種測量。
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