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本文標題："硅在掃描探針顯微鏡的的制造和技術實驗"
新聞來源：未知 發布時間：2014-6-20 5:37:06 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
硅在掃描探針顯微鏡的發展過程中起到了重要作用
硅在掃描探針顯微鏡的發展過程中起到了重要作用。在20多年的時l司
里，硅的7x7重構已成為表面科學家的挑戰。
1983年，GerdBinning和Heinricll Rollrer發明了掃描隧道顯微鏡(S1，AI)
，在實空間中繪制了第一張Si(111)(7 x7)原子分辨率的圖像。這個結果中
所包含的信息己幫助發展了‘rakayanagi等提出的二聚物一吸附原子一堆垛
層錯模型。si(1 11)(7x7)表面已被認為是與眾不同的掃描探針顯微鏡—原
子力顯微鏡(AFM)的試金石。51(1 11)(7 x7)表面的STM圖像在引人STM一年
后獲得，
而AFM卻花了幾乎10年的時間迎接這個令人興奮的復雜表面的挑戰。可是這
個最初的AFM數據沒能給出關于硅表面的新的信息，成像這個復雜表面的要
求已成為完善AFM的驅動力。目前，AFM的分辨率已得到提高，Si(111)(7 x7
)表面成為AFM的標準測試樣品。因為這個表面為眾人所知，所以借助它可以
了解更多關于顯微鏡探針尖端的三維結構。硅既是令人激動的研究對象又是
用于掃描探針顯微鏡的垂要材料。
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