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本文標題："光學顯微鏡與電鏡之間存在放大倍數方面的差距"
新聞來源：未知 發布時間：2014-5-27 17:41:05 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
光學顯微鏡與電鏡之間存在放大倍數方面的差距
由于透射電鏡采用復型技術來分析研究斷口形貌時，很難將所觀察到的部位與
實際斷口試樣上的位置或方向一一對應起來，所以給分析帶來很大困難;再者，因為
銅網的網格占去了很大的面積，使斷口被觀察到的范圍很窄。因此，目前廣泛采用掃
描電鏡來分析研究斷口形貌特征。
在斷口分析中，使用掃描電鏡對斷口試樣上的同一部位，可以進行數倍到數萬倍
連續觀察，即能彌補光學顯微鏡與透射電鏡之間存在放大倍數方面的差距。當聚焦
深度與透射電鏡相同時，其分辨能力大約為10一30nm左右。另外，從電子圖像成像
質量及清晰程度采看，掃描電鏡達不到透射電鏡的水平。然而，掃描電鏡可以省掉復
雜的復型技術，直接觀察斷口實物，但所觀察的斷口試樣，其尺寸是有限的，所以必須
將其斷口切割成適當的尺寸。若不允許切割，可用醋酸纖維膜(即AC紙)復型后再
噴上碳或金屬，然后放人掃描電鏡中觀察。
由此可見，透射電鏡與掃描電鏡同是進行斷口分析的主要工具，但各有優缺點。
目前的電子顯微斷口學，就是以這兩種電子顯微鏡為基礎建立起來的。
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