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顯微鏡鏡檢實際上是形態鑒定的一個方面,它主要是借助儀器設
備將宏觀不容易看清楚的或者肉眼不可能看到的
微觀形態展現出來,
從顯微結構或亞顯微形態對檢材進行區分以達到物種鑒定的目的。
顯微攝影技術等都可能用于物種微觀性狀的觀察。
20世紀30年代,出現透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡,它們用
電子流代替照明的光線,用電子源代替了光源,以及用特殊的電極或
磁板(靜電透鏡或電磁透鏡)代替了光學顯微鏡的集光器,
物鏡和目鏡的作用。它的分辨率比光學顯微鏡提高8萬倍,使得
人們可以對材料的超微結構進行比較區分。
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