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本文標題："精細電路板檢測光學顯微鏡-測量光學儀器"
新聞來源：未知 發布時間：2014-3-2 21:25:54 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
精細電路板檢測光學顯微鏡-測量光學儀器
隨著印制電路板密度的增加，在制作期間，傳統的目視檢測的方
法對雙面板或多基板的有效性比較低。
盡管通過目測或電子連續性測試能很容易地檢測到單面板或雙面
板的斷路和短路，但是對于多層印制電路板內層的故障，它幾乎是不
可能檢測到的。
因此，一個更有效的多基板的檢測方法是通過X 射線進行掃描，
通過這種方法可以對板子的內層結構進行深人的觀測，很容易檢測出
故障。
然而，光學檢測不能檢測出漏電、污染問題，不能測試絕緣電阻。
因此，高標準的電氣檢測和光學掃描將產生零缺陷的印制電路板產品。
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