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顯微干涉輪廓儀的基本缺點,是視場照度明顯地比
干涉顯微鏡低
得多,因為它不能用在兩個方向都擴展的光源,而采用窄的發光狹縫。
除此以外,又因采用兩面談,使儀器的制造和調整變得復雜。因此,
顯微干涉輪廓儀不能夠取代干涉顯微鏡,檢查有規則痕跡的表面,采
用干涉顯微鏡還比較合適。
林尼克I 型顯微干涉輪廓儀做成像
生物顯微鏡上緊湊的附件。但
它未能得到推廠應用,因為物鏡的孔徑和放大倍數都不夠大,不能正
確評定被檢表面加工哀跡的深度。另外,儀器結構不能保證干涉圖樣
有足夠的穩定度。
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