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本文標題："實驗電子顯微鏡觀察測量電極表面納米銀顆粒的尺寸"
新聞來源：未知 發布時間：2013-9-19 0:52:20 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
實驗電子顯微鏡觀察測量電極表面納米銀顆粒的尺寸
正面電極印刷(Front side contacts)
正面電極印刷的圖案有很多種樣式，但通常為了實際考量，通常
都以簡單化設計并成對稱形式，讓其對稱主要目的是為了預防當芯片
受到撞擊而發生破裂情形時，可讓所產生的電流仍然能被收集使用
。芯片正面及背面電極都是為了收集電流導引至外部，但因為正
面電極將直接受太陽光照射，因此，在正面電極設計上必須考慮到電
極本身的電阻損失與光遮蔽損失的平衡，所以目前正面電極的設計與
舊有設計較不同的地方是以線寬要細、但厚度相對提高為目標，盡可
能將電阻損失與光遮蔽損失降至最低。但是匯流電極太窄會使模組廠
在焊接導線時不易操作，且焊接面積較小也可能導致電阻增加、導線
與電極間附著力不足等問題。把細電極變窄可減少遮蔽，但必須注意
電阻之增加對效率是否產生不良影響，此外網印時是否容易斷線也需
要特別注意
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