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本文標題："一般光學顯微鏡技術可觀察細胞的結構"
新聞來源：未知 發布時間：2013-5-5 21:47:38 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
一般光學顯微鏡技術可觀察細胞的結構
探討大腦皮質經物理性壓迫后錐狀神經細胞超顯微結構之變化
Physical Compression-Induced Ultrastructural Changes in Pyramidal Neurons of Cerebral Cortex
臨床上如腦膜瘤、硬腦膜外出血等，皆會造成大腦皮質的壓迫，同時常伴隨有臨床癥狀，如失語、暫時性失明等。
在過去的研究中，學者發現當大腦皮質受到純粹物理性壓迫后，大腦皮質厚度會顯著變薄，但此壓迫并未造成神經細胞死亡；
且受壓迫后的大腦皮質中，第五層錐狀神經細胞的頂樹突干長度明顯變短且外型彎曲，但于持續壓迫三天后，頂樹突干外型會恢復至近似對照組。
目前雖然藉由一般光學顯微鏡技術可觀察到上述這些改變，但對于頂樹突干如何恢復外觀之相關機制和內部胞器超顯微結構變化仍不清楚。
我們推測錐狀神經細胞于壓迫后，以進行細胞骨架及胞膜重組為基礎，逐步恢復外觀至接近正常型態。為了證明上述假設，
實驗利用穿透式電子顯微鏡技術，觀察大鼠感覺運動皮質區于給予物理性壓迫后，包括微管及細胞膜等超顯微結構的變化。
實驗結果顯示，在壓迫30分鐘至24小時內，微管密度顯著低于對照組 (p < 0.05)，且微管排列較為松散且雜亂，
此外，壓迫后頂樹突干外型扭曲，因此推測微管密度下降除了因受壓迫后微管解聚造成數目減少外，
壓迫后頂樹突干直徑變寬也是微管密度下降的原因之一。有趣的是，這些現象在去除壓迫源后就可回復到近似對照組，
顯示神經細胞在壓迫初期主要以被動方式改變外觀以適應外力。除此之外，我們也發現在持續壓迫36小時之后，
微管密度已回復至接近對照組，且頂樹突干內之內吞小泡數目明顯增加，推測此時神經細胞會主動產生微管重組，
并利用內吞作用修復細胞膜扭曲的外觀，這些結果證實了頂樹突干外型改變與微管及細胞膜重組有密切關系，
而且神經細胞在受壓迫后之反應可分為被動改變的立即期及主動重組的適應期
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