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本文標題："TEM電子顯微鏡可以放大倍率最大50萬倍"
新聞來源：未知 發布時間：2013-2-5 0:41:08 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
TEM電子顯微鏡可以放大倍率最大50萬倍
測 試 項 目.備 注
1.TEM.放大倍率最大50萬倍，解像率≧2.04 A。
2.SEM+EDS.樣微觀組織觀察解像率≧35 A，微區化學成分分析≧2.0μm。
3.X-ray.繞射光譜結構分析(鑑別率≧0.0010，速度0.050~4000，/min)，極圖及集合組織分析。
4.GLEEBLE 1500.高溫拉伸、壓縮試驗(室溫～1400℃)，熱處理制程模擬(升溫≦1000℃/S，降溫≦50℃/S)，銲接熱循環曲線模擬。
5.GLEEBLE 2000.高應變速率軋延模擬(應變速率≦200S-1)，多道快速高溫軋延模擬(≦15道，≦1250℃)，軋延變態溫度量測。
6.EPMA.微區影像觀察(≧45 A )，微區化學成分分析≧2.0μm)。
7.AEM.明暗視野影像觀察(≦100萬倍，解像率≧1.44 A)，繞射晶體結構分析，微結構化學成分分析(10～100 A)，輕元素(原子素>2)及微量元素分析。
8.熱膨脹儀.材料變相態溫度量測(≦1400℃)，鋼材之TTT及CCT圖測量(加熱速率≦50℃/S，冷卻速率≦100℃/S)。
9.內耗儀.鋼中固溶碳、氮之含量(-150℃～600℃，≧1PPM)，差排與合金元素之相互作用。
主要設備
穿透式電子顯微鏡(TEM)
分析式電子顯微鏡(AEM)
掃描式電子顯微鏡(SEM)
能譜儀(EDS)
熱機模擬儀(GLEEBLE 1500、2000)
X光繞射儀(X-ray)
電子微探儀(EPMA)
熱膨脹儀
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