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本文標(biāo)題："半透明物體的表面不能用斑點(diǎn)照像術(shù)來量測其傾斜度"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2012-12-10 20:09:49 本站主頁地址：http://www.pzfczx.com
半透明物體的表面不能用斑點(diǎn)照像術(shù)來量測其傾斜度，因?yàn)榘胪该魑矬w表面內(nèi)部亦會(huì)反射部份的激光光，而影響了原本的斑點(diǎn)圖。
若物體表面應(yīng)變過大而改變了表面的微細(xì)結(jié)構(gòu)時(shí)，此法亦將不適用。當(dāng)物體表面位移量過大時(shí)，在雙重曝光下，
底片所記錄的斑點(diǎn)圖只剩下一部份有關(guān)連性，則其干涉條紋的對(duì)比就相對(duì)降低，且會(huì)被其它斑點(diǎn)所散射過來的光干擾 ，更降低其對(duì)比
由以上這些結(jié)果做一個(gè)粗略的估計(jì)，斑點(diǎn)照像術(shù)可量測的范圍大約是在1-200μm之間，若使用F/4的透鏡，則其底限大約是斑點(diǎn)特征尺寸的五倍，
而上限則是穿透孔徑的百分之十
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